The memory device of a semiconductor chip is tested with a BIST circuit. The configuration and the method store the test results obtained by the BIST circuit. The test results are stored in the sense amplifiers of the memory device. In addition, it also possible for test programs for the BIST circuit to be stored in the sense amplifiers.

Приспособление памяти обломока полупроводника испытано с цепью BIST. Конфигурация и метод хранят результаты испытаний полученные цепью BIST. Результаты испытаний хранятся в усилителях чувства приспособления памяти. In addition, оно также по возможности для программ испытания для цепи BIST для того чтобы храниться в усилителях чувства.