A method for identifying dynamic NAND or NOR gates from a netlist having output nodes, supply voltages along with their opposite supply voltages, FETs and their connections, which includes the steps of selecting an output node from the netlist, identifying FETs having at least one branch that is connected directly to the selected output node but not connected directly to the supply voltage, verifying that the branch(es) of the identified FETs define a dynamic logic gate, and identifying either a NAND gate or a NOR gate for the dynamic logic gate.

Μια μέθοδος για δυναμικός NAND ή ΟΥΤΕ τις πύλες από ένα netlist που έχει τους κόμβους παραγωγής, τάσεις ανεφοδιασμού μαζί με τις αντίθετες τάσεις ανεφοδιασμού τους, FETs και οι συνδέσεις τους, που περιλαμβάνουν τα βήματα της επιλογής ενός κόμβου παραγωγής από το netlist, προσδιορισμός FETs που έχει τουλάχιστον έναν κλάδο που συνδέεται άμεσα με τον επιλεγμένο κόμβο παραγωγής αλλά δεν συνδέεται άμεσα με την τάση ανεφοδιασμού, ελέγχοντας ότι ο κλάδος (es) του προσδιορισμένου FETs καθορίζει μια δυναμική πύλη λογικής, και προσδιορισμός είτε μιας NAND πύλης είτε α ΟΎΤΕ της πύλης για τη δυναμική πύλη λογικής.

 
Web www.patentalert.com

< Method and system for identifying dynamic NAND or NOR gates from a netlist

< Method and system for identifying dynamic NAND or NOR gates from a netlist

> Built-in self test for content addressable memory

> On-the-fly memory testing and automatic generation of bitmaps

~ 00066