The present invention relates to methods for performing integrated circuit testing and an apparatus therefore including a data analyzer, a test program server, a data storage unit, and testers. One embodiment includes providing a plurality of software switchable test programs and a first plurality of integrated circuits and running the software switchable test programs on the first plurality of integrated circuits. The method further includes collecting and storing data resulting from the test programs and providing a second plurality of integrated circuits where an analyzer program uses the collected and stored data to determine which of the software switchable tests are bypassable tests. In response to running the analyzer program, the test programs are automatically run without the bypassable tests on a first portion of the second plurality of integrated circuits.

La présente invention concerne des méthodes pour exécuter l'essai de circuit intégré et un appareil donc comprenant un analyseur de données, un serveur de programme d'essai, une unité de stockage de données, et des appareils de contrôle. Une incorporation inclut fournir une pluralité de programmes permutables d'essai de logiciel et une première pluralité de circuits intégrés et de fonctionnement que l'essai permutable de logiciel programme sur la première pluralité de circuits intégrés. La méthode autre inclut rassembler et stocker des données résultant des programmes d'essai et fournissant une deuxième pluralité de circuits intégrés où un programme d'analyseur emploie les données rassemblées et stockées pour déterminer lesquels des essais permutables de logiciel sont les essais bypassable. En réponse à exécuter le programme d'analyseur, les programmes d'essai sont automatiquement exécutés sans essais bypassable sur une première partie de la deuxième pluralité de circuits intégrés.