Provided is a active material for positive electrode for an alkaline secondary cell, which advantageously exhibits improved overdischarge characteristics, improved utilization of the active material and an improved effect of suppressing the rise in cell internal pressure, a method for producing the same, and an alkaline secondary cell using the above active material for positive electrode, especially a nickel-hydrogen secondary cell. The above active material comprises nickel hydroxide particles each having a surface to which a cobalt oxide sticks, wherein the cobalt oxide contains 20 to 40% by mole of cobalt(II) oxide, wherein the nickel hydroxide particles form an eutectic together with Co and Zn or/and Y, and the Co content of the eutectic is 2% by mass or less, and the nickel hydroxide particles have a value of a half width of the peak ascribed to the (101) crystal face diffraction of 0.8.degree./2.theta.(Cu--K.sub..alpha.) or more as measured by powder X-ray diffractometry.

Υπό τον όρο ότι είναι ένα ενεργό υλικό για το θετικό ηλεκτρόδιο για ένα αλκαλικό δευτεροβάθμιο κύτταρο, το οποίο παρουσιάζει ευνοϊκά τα βελτιωμένα overdischarge χαρακτηριστικά, τη βελτιωμένη χρησιμοποίηση του ενεργού υλικού και μια βελτιωμένη επίδραση της καταστολής της ανόδου στην εσωτερική πίεση κυττάρων, μια μέθοδος για το ίδιο πράγμα, και ένα αλκαλικό δευτεροβάθμιο κύτταρο που χρησιμοποιεί το ανωτέρω ενεργό υλικό για το θετικό ηλεκτρόδιο, ειδικά ένα δευτεροβάθμιο κύτταρο νικέλιο-υδρογόνου. Το ανωτέρω ενεργό υλικό περιλαμβάνει τα μόρια κάθε ένα υδροξειδίου νικελίου που έχει μια επιφάνεια στην οποία ραβδιά κοβαλτίου οξειδίων, όπου το οξείδιο κοβαλτίου περιέχει 20 40% από τον τυφλοπόντικα του οξειδίου κοβαλτίου (II), όπου τα μόρια υδροξειδίου νικελίου διαμορφώνουν έναν ευτηκτικό μαζί με ή κοβαλτίου και ZN/kaj το Υ, και η περιεκτικότητα σε κοβάλτιο του ευτηκτικού είναι 2% από τη μάζα ή λιγότερους, και τα μόρια υδροξειδίου νικελίου έχουν μια αξία ενός μισού πλάτους της αιχμής που αποδίδεται στη (101) διάθλαση προσώπου κρυστάλλου 0.8.degree./2.theta.(Cu -- K.sub..alpha.) ή περισσότερο όπως μετρημένος από την ακτίνα X σκονών diffractometry.