Methods, systems and devices are described for rapid characterization and
screening of liquid samples to determine properties (e.g., particle size,
particle size distribution, molar mass and/or molar mass distribution)
thereof with static light scattering and/or dynamic light scattering. The
liquid samples can be solutions, emulsions, suspensions or dispersions.
One method, includes providing a vessel containing a liquid sample having
an exposed surface that defines a gas-liquid sample interface, and
analyzing the sample by light scattering methods that include transmitting
light through the gas-liquid sample interface into the sample, and
detecting light scattered from the sample or from a component thereof.
Additional methods are directed to characterizing a plurality of liquid
samples or components thereof. The methods, systems, and devices have
applications in high-throughput screening, and particularly, in
combinatorial materials research and in industrial process control.
Des méthodes, les systèmes et les dispositifs sont décrits pour la caractérisation et le criblage rapides des échantillons liquides pour déterminer des propriétés (par exemple, dimension particulaire, distribution de dimension particulaire, masse molaire et/ou distribution de masse molaire) en avec la dispersion de la lumière statique et/ou la dispersion de la lumière dynamique. Les échantillons liquides peuvent être des solutions, des émulsions, des suspensions ou des dispersions. Une méthode, inclut fournir un navire contenant un échantillon liquide ayant une surface exposée qui définit une interface gazeuse liquide témoin, et analysant l'échantillon par les méthodes de dispersion de la lumière qui incluent la lumière de transmission par l'interface gazeuse liquide témoin dans l'échantillon, et détecter la lumière dispersée de l'échantillon ou d'un composant en. Des méthodes additionnelles sont dirigées vers caractériser une pluralité d'échantillons ou de composants liquides en. Les méthodes, les systèmes, et les dispositifs ont des applications dans le criblage de haut-sortie, et en particulier, dans la recherche combinatoire de matériaux et dans la commande de processus industriel.
