When a circuit to be designed performs data transmit/receive behavior with other circuits such as a voice codec and a transmitter, not only the circuit to be designed but also the other circuits are provided with test clusters arranged in a hierarchical structure of a specification layer, an behavioral layer, and a function layer as in the VC cluster for the circuit to be designed. The test clusters include data describing the I/O relationship between the circuit to be designed and the other circuits in the specification layer, and data for activating sequence control in the other circuits in the behavioral layer. The VC cluster for the object to be designed includes test clusters for sequence control to be particularized in the function layer. Using the test clusters in the VC cluster, test clusters in the lower-level layer can be generated.

Quand un circuit à concevoir effectue le comportement de transmission/réception de données avec d'autres circuits tels qu'un codec de voix et un émetteur, non seulement le circuit à concevoir mais également les autres circuits sont équipés de faisceaux d'essai disposés dans une structure hiérarchique d'une couche de spécifications, d'une couche comportementale, et d'une couche de fonction comme dans le faisceau VC pour le circuit à concevoir. Les faisceaux d'essai incluent des données décrivant le rapport d'I/O entre le circuit à concevoir et les autres circuits dans les spécifications posent, et des données pour la commande de déclenchement d'ordre dans les autres circuits dans la couche comportementale. Le faisceau VC pour que l'objet soit conçu inclut des faisceaux d'essai pour que la commande d'ordre soit particularisée dans la couche de fonction. Employer l'essai groupe dans VC le faisceau, faisceaux d'essai dans la couche plus basse peut être produit.