A system and method for realizing vector Kerr magnetometry are disclosed. The system enables simultaneous longitudinal and transverse Kerr effect measurements at each point on a sample surface. An optional component includes a sample platform for achieving precise linear and rotational relocation. The repositionable platform enables complete, 360 degree characterization about a single point. Additionally, the platform control mechanism may be utilized in obtaining longitudinal and transverse Kerr effect measurements at succeeding points on the surface of a sample. Rapid sample characterization is thus achieved.

Ένα σύστημα και μια μέθοδος για τη διανυσματική μαγνητομετρία Kerr αποκαλύπτονται. Το σύστημα επιτρέπει τις ταυτόχρονες διαμήκεις και εγκάρσιες μετρήσεις επίδρασης Kerr σε κάθε σημείο σε μια επιφάνεια δειγμάτων. Ένα προαιρετικό συστατικό περιλαμβάνει μια πλατφόρμα δειγμάτων για την επίτευξη του ακριβούς γραμμικού και περιστροφικού επανεντοπισμού. Η repositionable πλατφόρμα επιτρέπει πλήρη, χαρακτηρισμός 360 βαθμού για ένα ενιαίο σημείο. Επιπλέον, ο μηχανισμός ελέγχου πλατφορμών μπορεί να χρησιμοποιηθεί στη λήψη των διαμήκων και εγκάρσιων μετρήσεων επίδρασης Kerr στα πετυχαίνοντας σημεία στην επιφάνεια ενός δείγματος. Ο γρήγορος χαρακτηρισμός δειγμάτων επιτυγχάνεται έτσι.

 
Web www.patentalert.com

< Magnetic systems with irreversible characteristics and a method of manufacturing and repairing and operating such systems

< Reconfiguring storage modes in a memory

> Multi-function serial I/O circuit

> Self-healing MRAM

~ 00058