Method and device for rapid characterization of arrays of crystalline, polycrystalline or amorphous materials; in particular for the formation and X-ray diffraction analysis of polymorph libraries and the discovery of new crystal forms. According to one aspect, a multi-well plate comprising a masking plate with an array of openings and a removable base plate is used to crystallize precipitates. X-ray diffraction analysis is performed by scanning an X-ray beam over the base plate and recording diffractograms of the crystalline precipitates.

Metodo e dispositivo per la descrizione veloce degli allineamenti dei materiali cristallini, policristallini o amorfi; in particolare per l'analisi di diffrazione di raggi X e di formazione delle biblioteche polimorfe e la scoperta di nuove forme di cristallo. Secondo una funzione, una piastra del multi-well che contiene una piastra mascherante con un allineamento delle aperture e una base di appoggio smontabile è utilizzata per cristallizzare i precipitati. L'analisi di diffrazione di raggi X è effettuata esplorando un fascio di raggi X sopra la base di appoggio e registrando i diffractograms dei precipitati cristallini.