Pins of an integrated circuit are provided with timing axis signals for testing in the time axis without discrepancies. An electro-optic probe in proximity to a plurality of contact points of a device under test uses positions of equal distance or a pre-set distance as skew measurement points, and detects timing axis signals on each microstrip line, A phase detector detects the phase of the timing axis signals that the electro-optic probe detects, and a phase difference calculator finds the phase difference between the phase detected by the phase detector and a reference value. Phase control of the timing axis signals is carried out by a phase controller so as to cancel the obtained phase difference.

Штыри интегрированной цепи обеспечены с сигналами оси времени для испытывать в оси времени без несоответствий. Electro-optic зонд в близости к множественности точек соприкосновения приспособления под положениями польз испытания равного расстояния или заранее поставленного расстояния как skew пункты измерения, и обнаруживает сигналы оси времени на каждой линии microstrip, детектор участка а обнаруживает участок оси времени сигнализирует что electro-optic зонд обнаруживает, и чалькулятор разнице в участка находит разницу в участка между участком обнаруженным детектором участка и значением справки. Управление участка сигналов оси времени снесено вне регулятором участка для того чтобы отменить полученную разницу в участка.

 
Web www.patentalert.com

< (none)

< Multilayer integrated optical device and a method of fabrication thereof

> Stable N-oxyl radial assisted mini emulsion polymerization

> (none)

~ 00057