It is, therefore, an object of the present invention to provide a structure and method of blowing fuses in a semiconductor chip that includes creating a design for the chip using a library, generating test data from the design, extracting the fuse related information from the design to prepare a fuse blow table, building the chip with the design data, testing the chip to produce failed data, comparing the fuse blow table to the failed data to determine the fuse blow location data, and blowing the selected fuses based on the fuse blow location data. The extraction method can include creating a fuse map file based upon a correlation between physical pin locations on the chip and different fuse macros within the design, wherein an order of fuses within the fuse blow table matches an order of fuses within the fuse map file.

Будет, поэтому, предметом присытствыющего вымысла для того чтобы обеспечить структуру и метод дуть взрыватели в обломоке полупроводника который вклюает создавать конструкцию для обломока использующ архив, производящ проверки данных от конструкции, извлекающ информацию отнесенную взрывателем от конструкции для того чтобы подготовить таблицу дуновения взрывателя, строя обломок с проектныа данные, испытывая обломок для того чтобы произвести вылтинные из строя данные, сравнивая таблицу дуновения взрывателя к вылтинным из строя данным для того чтобы обусловить данные по положения дуновения взрывателя, и дуя выбранные взрыватели после того как он основан на данных по положения дуновения взрывателя. Метод извлечения может включить создавать архив карты взрывателя основанный на корреляции между физическими положениями штыря на обломоке и по-разному макросами взрывателя в пределах конструкции, при котором заказ взрывателей внутри таблица дуновения взрывателя сопрягает заказ взрывателей внутри архив карты взрывателя.