In deep submicron technologies, coupling capacitance significantly dominates the total parasitic capacitance. This causes crosstalk noise to be induced on quiescent signals which could lead to catastrophic failures. A methodology is provided that is a practical approach to full-chip crosstalk noise verification. A multi-dimensional noise lookup table is formed for a cell used within the IC, wherein the multi-dimensional noise table relates a set of input noise pulse characteristics and a set of output loading characteristics to an output noise pulse characteristic of the cell. A noise pulse on an input to an instantiation of a cell is determined and then characterized. An output loading characteristic of the cell is also made. A prediction of whether the instantiation of cell will propagate the noise pulse is made by selecting an output noise pulse characteristic from the multi-dimensional noise table corresponding to the noise pulse characteristic and to the output loading characteristic. Other instantiations of the cell are evaluated using the same multi-dimensional noise table. A prediction of whether each instantiation of cell will propagate the noise pulse is made by selecting an output noise pulse characteristic from the multi-dimensional noise table corresponding to the noise pulse characteristic and to the output loading characteristic associated with each instantiation of the cell.

En technologies submicroniques profondes, la capacité d'accouplement domine de manière significative toute la capacité parasite. Ceci cause le bruit d'interférence d'être induit sur les signaux tranquilles qui pourraient mener aux échecs catastrophiques. Une méthodologie est à condition que soit une vérification pratique de bruit d'interférence de plein-morceau d'approche. Une table multidimensionnelle de consultation de bruit est formée pour une cellule utilisée dans l'IC, où la table multidimensionnelle de bruit relie un ensemble de caractéristiques d'impulsion de bruit d'entrée et un ensemble de caractéristiques de chargement de rendement à une impulsion de bruit de rendement caractéristique de la cellule. Une impulsion de bruit sur une entrée à un instantiation d'une cellule est déterminée et puis caractérisée. Un chargement de rendement caractéristique de la cellule est également fait. Une prévision de si l'instantiation de la cellule propagera l'impulsion de bruit est faite en choisissant une impulsion de bruit de rendement caractéristique à partir de la table multidimensionnelle de bruit correspondant à l'impulsion de bruit caractéristique et à la caractéristique de chargement de rendement. D'autres instantiations de la cellule sont évalués en utilisant la même table multidimensionnelle de bruit. Une prévision de si chaque instantiation de cellule propagera l'impulsion de bruit est faite en choisissant une impulsion de bruit de rendement caractéristique à partir de la table multidimensionnelle de bruit correspondant à l'impulsion de bruit caractéristique et à la caractéristique de chargement de rendement liée à chaque instantiation de la cellule.