A scan chain latch circuit is provided. The scan chain latch circuit includes a first shift register latch and a second shift register latch. The scan chain latch circuit also includes a multiplexor connected between the first and second shift register latches, the multiplexor has a select line for controlling the function of the multiplexor. The multiplexor is configured for implementing an inverting mode such that a logic value may be passed via the multiplexor from the first shift register latch to the second shift register latch in one of a non-inverted state and an inverted state based upon the state of the select line.

Ein Scan-Kette Verriegelung Stromkreis wird zur Verfügung gestellt. Der Scan-Kette Verriegelung Stromkreis schließt eine erste Schieberegisterverriegelung und eine zweite Schieberegisterverriegelung mit ein. Der Scan-Kette Verriegelung Stromkreis schließt auch einen Mehrfachkoppler mit ein, der zwischen dem ersten angeschlossen wird und den zweiten Schieberegisterverriegelungen, hat der Mehrfachkoppler eine auserwählte Linie für das Steuern der Funktion des Mehrfachkopplers. Der Mehrfachkoppler wird für das Einführen eines umkehrenden Modus so zusammengebaut, daß ein Logikwert über den Mehrfachkoppler von der ersten Schieberegisterverriegelung zur zweiten Schieberegisterverriegelung in einer eines nicht-umgekehrten Zustandes und des umgekehrten Zustandes geführt werden kann, die nach dem Zustand der auserwählten Linie gegründet werden.