A method of integrated circuit design using the selective replacement of increasingly noise tolerant cells is disclosed. The method involves compiling a library comprising a plurality of design element cells, sorting the library into groups of functionally-equivalent cells, and ordering the cells in each group from one extreme to the other extreme value of a featured parameter for which the integrated circuit is to be tested. Each one of the cells in the library have a known value of another parameter so that the substitution of a library cell for an original cell or another library cell does not affect the overall integrated circuit value for that known parameter. A substitution can thus be made with the knowledge that additional problems involving the known parameter are not being created. If a test of the integrated circuit discovers a problem in a particular cell's performance with regard to the featured parameter the appropriate library group is accessed and the failing cell is replaced with the first unused cell in the group. The process is repeated until the integrated circuit passes a performance test.

Une méthode de conception de circuit intégré employant le remplacement sélectif de plus en plus des cellules tolérantes de bruit est révélée. La méthode implique de compiler une bibliothèque comportant une pluralité des cellules d'élément de conception, assortissant la bibliothèque dans des groupes de cellules fonctionnel-équivalentes, et commandant les cellules dans chaque groupe d'une extrémité à l'autre valeur extrême d'un paramètre décrit pour lequel le circuit intégré doit être examiné. Chacune des cellules dans la bibliothèque a une valeur connue d'un autre paramètre de sorte que la substitution d'une cellule de bibliothèque pour une cellule originale ou une cellule différente de bibliothèque n'affecte pas la valeur globale de circuit intégré pour ce paramètre connu. Une substitution peut être faite ainsi avec la connaissance que des problèmes additionnels impliquant le paramètre connu ne sont pas créés. Si un essai du circuit intégré découvre que un problème dans l'exécution des cellules particulières en ce qui concerne le paramètre décrit le groupe approprié de bibliothèque est consulté et la cellule échouante est remplacée avec la première cellule inutilisée dans le groupe. Le processus est répété jusqu'à ce que le circuit intégré passe un essai de performance.