A scan chain latch circuit is provided. The scan chain latch circuit includes a first shift register latch, a second shift register latch, and a third shift register latch. A first multiplexor is connected between the first and second shift register latches, and a second multiplexor is connected between the second and third shift register latches. Each multiplexor is configured for implementing a jump mode such that a logic value may be passed via the first multiplexor from the first shift register latch to the third shift register latch.

Ein Scan-Kette Verriegelung Stromkreis wird zur Verfügung gestellt. Der Scan-Kette Verriegelung Stromkreis schließt eine erste Schieberegisterverriegelung, eine zweite Schieberegisterverriegelung und eine dritte Schieberegisterverriegelung mit ein. Ein erster Mehrfachkoppler wird zwischen den ersten und zweiten Schieberegisterverriegelungen angeschlossen, und ein zweiter Mehrfachkoppler wird zwischen den zweiten und dritten Schieberegisterverriegelungen angeschlossen. Jeder Mehrfachkoppler wird für das Einführen eines Sprungmodus so zusammengebaut, daß ein Logikwert über den ersten Mehrfachkoppler von der ersten Schieberegisterverriegelung zur dritten Schieberegisterverriegelung geführt werden kann.