Method and system for estimating processing time delay .DELTA.t.sub.d of a selected signal processing device and temperature T of the device. A selected input signal is received by a first sub-system that includes the selected device and by a second sub-system having a controllable time delay, producing first and second sub-system output signals. The first and second sub-system output signals are compared to estimate the time delay of the selected device. A known relationship T=f(.DELTA.t.sub.d) is used to estimate temperature of the selected device and to determine whether this temperature is higher than a permitted or threshold device operating temperature. First and second signals, having the same or different shape parameters, may be processed by the system, and a statistical average of estimated device time delay can be computed to estimate device temperature.

La méthode et le système pour estimer la durée de la transformation retardent le DELTA.t.sub.d d'un dispositif et d'une température choisis T de traitement des signaux du dispositif. Un signal d'entrée choisi est reçu par un premier sous-ensemble qui inclut le dispositif choisi et par un deuxième sous-ensemble ayant un temps contrôlable retardez, produisant d'abord et les deuxièmes signaux de sortie de sous-ensemble. Les premiers et deuxièmes signaux de sortie de sous-ensemble sont comparés d'estimer le temps retardent du dispositif choisi. Un rapport connu T=f(.DELTA.t.sub.d) est employé pour estimer la température du dispositif choisi et pour déterminer si cette température est plus haute qu'une température de fonctionnement permise ou de seuil de dispositif. D'abord et les deuxièmes signaux, ayant la même chose ou les différents paramètres de forme, peut être traité par le système, et une moyenne statistique de temps estimé de dispositif retardent peut être calculée pour estimer la température de dispositif.