The foregoing objects are achieved as is now described. A method and system for testing an integrated circuit are provided. A test substrate is provided which is manufactured by the same particular production technology for which the complex integrated circuit is designed. A pattern generator for generating test data and a result checker for comparing output data are embedded on the test substrate. Isolated portions of circuitry of the integrated circuit are selectively embedded onto the test substrate. The isolated portions of circuitry are subjected to testing by applying test data from the pattern generator to the isolated portions of circuitry. Errors in the isolated portions of circuitry are detected with the result checker by comparing data output from the isolated portions of circuitry with predetermined expected data, such that the integrated circuit is tested by susets, independently of testing the integrated circuit in its entirety.

Τα προηγούμενα αντικείμενα επιτυγχάνονται όπως περιγράφεται τώρα. Μια μέθοδος και ένα σύστημα για ένα ολοκληρωμένο κύκλωμα παρέχονται. Ένα υπόστρωμα δοκιμής παρέχεται που κατασκευάζεται από την ίδια ιδιαίτερη τεχνολογία παραγωγής για την οποία το σύνθετο ολοκληρωμένο κύκλωμα σχεδιάζεται. Μια γεννήτρια σχεδίων για την παραγωγή των στοιχείων δοκιμής και ένας ελεγκτής αποτελέσματος για τη σύγκριση των δεδομένων εξόδου ενσωματώνονται στο υπόστρωμα δοκιμής. Οι απομονωμένες μερίδες των στοιχείων κυκλώματος του ολοκληρωμένου κυκλώματος ενσωματώνονται επιλεκτικά επάνω στο υπόστρωμα δοκιμής. Οι απομονωμένες μερίδες των στοιχείων κυκλώματος υποβάλλονται στη δοκιμή με την εφαρμογή των στοιχείων δοκιμής από τη γεννήτρια σχεδίων στις απομονωμένες μερίδες των στοιχείων κυκλώματος. Τα λάθη στις απομονωμένες μερίδες των στοιχείων κυκλώματος ανιχνεύονται με τον ελεγκτή αποτελέσματος με τη σύγκριση της παραγωγής στοιχείων από τις απομονωμένες μερίδες των στοιχείων κυκλώματος με τα προκαθορισμένα αναμενόμενα στοιχεία, έτσι ώστε το ολοκληρωμένο κύκλωμα εξετάζεται από τα susets, ανεξάρτητα από τη δοκιμή του ολοκληρωμένου κυκλώματος στην ολότητά του.

 
Web www.patentalert.com

< (none)

< Method and apparatus for deterministically altering cyclic redundancy check information for data storage

> .alpha.,.beta., .beta.-trifluorostyrene-based composite membranes

> (none)

~ 00041