A system and method for testing an integrated circuit (IC) by using a boundary scan ring having registers coupled to a functional scan ring having registers within the integrated circuit in order to maximize test coverage, while minimizing test time. This is accomplished by shifting the boundary scan registers according to a clock signal while supplying data to the functional scan registers. The functional scan registers also supply data to the boundary scan registers. By appropriately interleaving input and output registers of the boundary scan ring, random data is supplied to the functional scan registers. This data may be scanned out of the boundary scan registers and compared with previously established test vectors in order to determine whether the device is performing as designed. Data may also be scanned out of the functional scan registers to augment the test coverage.

Um sistema e um método para testar um circuito integrado (IC) usando um anel da varredura do limite que tem os registos acoplados a um anel funcional da varredura que tem registos dentro do circuito integrado a fim maximize a cobertura do teste, ao minimizar o tempo do teste. Isto está realizado deslocando os registos da varredura do limite de acordo com um sinal do pulso de disparo quando os dados fornecendo à varredura funcional registarem. Os registos funcionais da varredura fornecem também dados aos registos da varredura do limite. Apropriadamente intercalando registos da entrada e da saída do limite faça a varredura do anel, dados aleatórios é fornecido aos registos funcionais da varredura. Estes dados podem ser feitos a varredura fora dos registos da varredura do limite e ser comparados com os vetores previamente estabelecidos do teste a fim determinar se o dispositivo está executando como projetado. Os dados podem também ser feitos a varredura fora dos registos funcionais da varredura para aumentar a cobertura do teste.