A method and apparatus for efficiently testing input/output (I/O) buffer are disclosed. The I/O buffer includes multiple transistors coupled to a data output terminal. The method includes enabling a single one of the multiple transistors. A predetermined electrical voltage level is then forced upon the data output terminal, and a resultant electrical current flowing through the data output terminal (e.g., in a direction away from the I/O buffer) is measured. The measured electrical current is compared to predetermined minimum and maximum current values. A ratio of the measured electrical current to a reference current is computed, and the computed current ratio is compared to a predetermined minimum and maximum current ratio. The above steps may be repeated until each of the multiple transistors has been enabled. The drive strength of a given transistor is a measure of the amount of electrical current the transistor causes to flow through the data output terminal when enabled. One or more of the multiple transistors has a drive strength which is less than all of the other transistors (i.e., a minimum drive strength). The reference current may be the amount of electrical current flowing through the data output terminal with the predetermined voltage level forced thereupon when the single enabled transistor has the minimum drive strength. By testing the impedances of the individual transistors of an I/O buffer independently, the method and apparatus accomplish I/O buffer testing in a highly efficient manner.

Un método y un aparato para el almacenador intermediario eficientemente de prueba de la entrada-salida (I/O) se divulgan. El almacenador intermediario de I/O incluye los transistores múltiples juntados a un terminal de salida de datos. El método incluye permitir solo de los transistores múltiples. Un nivel voltaico eléctrico predeterminado entonces se fuerza sobre el terminal de salida de datos, y una corriente eléctrica resultante que atraviesa el terminal de salida de datos (e.g., en una dirección lejos del almacenador intermediario de I/O) se mide. La corriente eléctrica medida se compara al mínimo predeterminado y a los valores actuales máximos. Un cociente de la corriente eléctrica medida a una corriente de la referencia se computa, y el cociente actual computado se compara a un mínimo predeterminado y a un cociente actual máximo. Los pasos antedichos pueden ser repetidos hasta que cada uno de los transistores múltiples se ha permitido. La fuerza de la impulsión de un transistor dado es una medida de la cantidad de corriente eléctrica las causas del transistor de atravesar el terminal de salida de datos cuando está permitida. Uno o más de los transistores múltiples tiene una fuerza de la impulsión que sea menos que todos los otros transistores (es decir, una fuerza mínima de la impulsión). La corriente de la referencia puede ser la cantidad de corriente eléctrica que atraviesa el terminal de salida de datos con el nivel voltaico predeterminado forzado con eso cuando el solo transistor permitido tiene la fuerza mínima de la impulsión. Probando las impedancias de los transistores individuales de un almacenador intermediario de I/O independientemente, el método y los aparatos logran el almacenador intermediario de I/O que prueba de una manera altamente eficiente.