A method of testing memory of a system is disclosed which operates the system from a second area of system address space which is outside of a first area of system address space, the system having one or more physical memory devices associated with the first area of system address space. The memory locations associated with the first area of the system address space are tested for predetermined characteristics after which the one or more tested physical memory devices are replaced with respective untested physical memory devices without dropping power to the system, and tested by repeating the test cycle. The system is prevented from operating in the first area of system address space and forced to operate from the second area, thereby preventing system interruptions when replacing the physical memory devices for testing.

Een methode om geheugen van een systeem wordt te testen onthuld dat het systeem van een tweede gebied van de ruimte van het systeemadres dat buiten een eerste gebied van de ruimte is van het systeemadres in werking stelt, het systeem dat één of meerdere fysieke geheugenapparaten verbonden aan het eerste gebied van de ruimte van het systeemadres heeft. De geheugenplaatsen verbonden aan het eerste gebied van de ruimte van het systeemadres worden getest voor vooraf bepaalde kenmerken waarna worden de één of meerdere geteste fysieke geheugenapparaten vervangen met respectieve onbeproefde fysieke geheugenapparaten zonder macht aan het systeem te laten vallen, en door de testcyclus te herhalen getest. Het systeem wordt verhinderd op het eerste gebied van de ruimte van het systeemadres te werken en om van het tweede gebied gedwongen te werken, daardoor verhinderend systeemonderbrekingen wanneer het vervangen van de fysieke geheugenapparaten om te testen.