An internal guardband for use in semiconductor testing is disclosed. One aspect of the invention is a semiconductor circuit having two paths. The first path is a standard path, used for normal operation of the circuit. The second path is a test path, used for testing of the circuit. The second, test path adds delay as compared to the first, standard path. This delay acts as an internal guardband for the circuit.

Un guardband interno per uso nella prova a semiconduttore è rilevato. Una funzione dell'invenzione è un circuito a semiconduttori che ha due percorsi. Il primo percorso è un percorso standard, utilizzato per il funzionamento normale del circuito. Il secondo percorso è un percorso della prova, utilizzato per la prova del circuito. Il secondo, percorso della prova aggiunge fa ritardare rispetto al primo, percorso standard. Ciò fa ritardare gli atti come guardband interno per il circuito.