The invention relates to an integrated circuit with at least an analog and a digital circuit that are interconnected by a signal path. In order to enable separate testing of the circuits, for example in accordance with the macro test approach, in the signal path a special seam circuit (200) is inserted. The seam circuit (200) is essentially a feedback loop (214) having a scannable flip-flop (210) and a multiplexer (220). The flip-flop (210) feeds a first input of the multiplexer (220), whereas a second input of the multiplexer (220) establishes an input (230) of the seam circuit (200). An output of the feedback loop (214) establishes an output of the seam circuit (200). The state of the multiplexer (220) defines the state of the seam circuit (200), in a first state of the multiplexer (220) the seam circuit (200) being transparent for signals being transferred along the signal path from one circuit to another, and in a second state of the multiplexer (220) the seam circuit (200) outputting a signal that was loaded in the feedback loop (214) beforehand.

Вымысел относит к интегрированной цепи с по крайней мере сетноой-аналогов и цифровой цепью соединена курсом сигнала. Для того чтобы включить отдельно испытывать цепей, например в соответствии с macro подходом к испытания, в курсе сигнала введена специальная цепь шва (200). Цепью шва (200) будет необходимо петля обратной связи (214) имея scannable flip-flop (210) и мультиплексор (220). Flip-flop (210) подает первый входной сигнал мультиплексора (220), тогда как второй входной сигнал мультиплексора (220) устанавливает входной сигнал (230) цепи шва (200). Выход петли обратной связи (214) устанавливает выход цепи шва (200). Положение мультиплексора (220) определяет положение цепи шва (200), в первом положении мультиплексора (220) цепь шва (200) прозрачно для сигналов будучи перенесенным вдоль курса сигнала от одной цепи к другим, и в втором положении мультиплексора (220) цепь шва (200) выводя наружу сигнал который был нагружен в петле обратной связи (214) заранее.