A tapered IDT function is provided in an IDT of a SAW device having fingers substantially parallel to one another by applying a static electric field to a piezoelectric substrate of the SAW device to generate in the substrate a strain which varies across the aperture of the IDT, thereby varying a center frequency of the IDT across the aperture of the IDT. The electric field can be perpendicular to the fingers and created by applying a dc voltage between conductors at least one of which can be tapered or angled, either in the region of the IDT to produce a strain directly or adjacent to the IDT to produce a strain indirectly, or it can be parallel to the fingers, two fields with opposite directions being created at the two sides of the IDT.

Une fonction conique d'IDT est fournie dans un IDT d'un dispositif de SCIE ayant des doigts essentiellement parallèles à un un autre en appliquant un champ électrique statique à un substrat piézoélectrique du dispositif de SCIE pour produire dans le substrat d'une contrainte qui change à travers l'ouverture de l'IDT, changeant de ce fait une fréquence centrale de l'IDT à travers l'ouverture de l'IDT. Le champ électrique peut être perpendiculaire aux doigts et être créé en appliquant une tension CC entre les conducteurs au moins dont un peut être effilé ou pêché, dans la région de l'IDT pour produire une contrainte directement ou à côté de l'IDT pour produire une contrainte indirectement, ou il peut être parallèle aux doigts, deux champs avec des directions opposées étant créées sur les deux côtés de l'IDT.