A technique is disclosed for identifying potentially defective circuitry associated with discrete pixel regions in an imaging system detector. Signals representative of the pixels in an image matrix are generated. The signals are analyzed to identify mean and standard deviation values from a histogram of the pixel population. Pixels lying outside of a desired range, such as a distribution envelope determined from the histogram, are compared to the mean value plus or minus a multiple of the standard deviation. Pixels lying outside of the desired range are labeled or masked as potentially defective.

Uma técnica é divulgada para identificar os circuitos potencial defeituosos associados com as regiões discretas do pixel em um detetor do sistema da imagem latente. Sinaliza o representante dos pixels em uma matriz da imagem são gerados. Os sinais são analisados identificar valores do desvio médio e padrão de um histograma da população do pixel. Os pixels que encontram-se fora de uma escala desejada, tais como um envelope da distribuição determinada do histograma, são comparados ao valor médio mais ou menos um múltiplo do desvio padrão. Os pixels que encontram-se fora da escala desejada são etiquetados ou mascarados como potencial defeituosos.