A method and system for testing circuit clusters in a boundary scan environment identifies the circuit clusters and corresponding neighboring boundary scan elements, and generates one or more test vectors to be applied to the cluster under test. The generated test vectors are serialized and input into an identified boundary scan element connected to the cluster being tested in the form of a boundary scan test chain. The output of the applied test vectors is observed from an output of another correspondingly identified boundary scan element connected to the cluster under test. During generation of test vectors a list of faults for detecting by each generated vector is maintained such that the observed output can be used to diagnose faults at the component level within the identified cluster.

Een methode en een systeem om kringsclusters in een milieu van het grensaftasten te testen identificeren de kringsclusters en de overeenkomstige naburige elementen van het grensaftasten, en produceren één of meerdere testvectoren die op de cluster in onderzoek moeten worden toegepast. De geproduceerde testvectoren worden in series vervaardigd en de input in een geïdentificeerd element van het grensaftasten verbonden met de cluster die in de vorm van een de testketen van het grensaftasten wordt getest. De output van de toegepaste testvectoren wordt van een output van een ander navenant geïdentificeerd element van het grensaftasten dat met de cluster in onderzoek wordt verbonden waargenomen. Tijdens generatie van testvectoren wordt een lijst van fouten voor het ontdekken door elke geproduceerde vector gehandhaafd dusdanig dat de waargenomen output kan worden gebruikt om fouten op het componentenniveau binnen de geïdentificeerde cluster te diagnostiseren.

 
Web www.patentalert.com

< (none)

< System and method for testing a microprocessor with an onboard test vector generator

> Controller for scan distributor and controller architecture

> (none)

~ 00033