In a test mode circuit, a latch circuit latches a test enable signal and address signals, and a decoder circuit decodes the address signals latched in the latch circuit in response to the test enable signal latched in the latch circuit to generate one of the test mode signals. A data mask terminal is connected to an input circuit for inputting a signal at the data mask terminal and generating a mask signal. A gate circuit is connected to the latch circuit or the decoder circuit and the input circuit. The gate circuit passes the test enable signal and the address signals or the test mode signals when the mask signal is inactive, and masks the same signals when the mask signal is active.

In een kring van de testwijze, sluit een klinkkring een test toelaat signaal en richt signalen, en een decoderkring decodeert de adressignalen die in de klinkkring worden gesloten in antwoord op de test toelaat signaal dat in de klinkkring wordt gesloten om één van de signalen van de testwijze te produceren. Een terminal van het gegevensmasker wordt aangesloten aan een inputkring voor het invoeren van een signaal bij de terminal van het gegevensmasker en het produceren van een maskersignaal. Een poortkring wordt verbonden met de klinkkring of de decoderkring en de inputkring. De poortkring gaat de test over toelaat signaal en de adressignalen of de signalen van de testwijze wanneer het maskersignaal inactief, is en de zelfde signalen maskeert wanneer het maskersignaal actief is.