Analog test instrument architecture for performing functional testing of
electronic circuit assemblies is disclosed. The analog test instrument
includes a plurality of identical channels, each channel including
circuitry for driving test stimuli and measuring responses at one node of
a circuit assembly under test. The driver and measurement circuitry in
each channel implement functions that traditionally have been implemented
in a test system using discrete instruments. The analog test instrument
further includes a master clock reference, which is used for synchronizing
the operation of the driver and measurement circuits. Each channel further
includes triggering circuitry for distributing trigger events within the
channel and to the other channels; and, an input buffer, which is shared
by the measurement circuits in the channel. The synchronized operation,
distributed trigger events, and shared input buffers are used to improve
the correlation of measurements made during functional testing.
Analoge Testinstrumentarchitektur für das Durchführen der Funktionsprüfung der elektronischen Stromkreise wird freigegeben. Das analoge Testinstrument schließt eine Mehrzahl der identischen Führungen, jeder Führung einschließlich Schaltkreis für Anregungen des treibenden Tests und der messenden Antworten bei einem Nullpunkt eines Stromkreises unter Test ein. Der Treiber und der Maßschaltkreis in jeder Führung führen Funktionen ein, die traditionsgemäß in einem Testsystem mit getrennten Instrumenten eingeführt worden sind. Das analoge weitere Testinstrument schließt einen Taktgeberhinweis ein, der für das Synchronisieren des Betriebes des Treibers und der Maßstromkreise verwendet wird. Jede weitere Führung schließt das Auslösen des Schaltkreises für verteilende Triggerfälle innerhalb der Führung und zu den anderen Führungen ein; und, ein Eingang Puffer, der durch die Maßstromkreise in der Führung geteilt wird. Der synchronisierte Betrieb, verteilten die Triggerfälle und geteilten die Eingang Puffer werden verwendet, um die Wechselbeziehung der Maße zu verbessern, die während der Funktionsprüfung gebildet werden.
