The invention relates to a method for testing the authenticity of a data carrier with an integrated circuit and is characterized in that a material is provided in an area of the integrated circuit which is excited to luminesce for example by an electromagnetic radiation or by an electric field, the electromagnetic radiation emitted by the material being measured and evaluated for determining the authenticity of the data carrier.

La invención se relaciona con un método para probar la autenticidad de un soporte con un circuito integrado y se caracteriza en que un material está proporcionado en un área del circuito integrado que es excitado al luminesce por ejemplo por una radiación electromágnetica o por un campo eléctrico, la radiación electromágnetica emitida por el material que es medido y evaluado para determinar la autenticidad del soporte.