In a large-scale integrated circuit, a scan path is divided between an I/O scan path that is formed by a series connection between only flip-flops that are in a region near an I/O pin and an internal scan path that is formed by a series connection between other flip-flops. A selector has one of its inputs connected to another end of the I/O scan path and to one end of the internal scan path, another of its inputs connected to another end of the internal scan path, and its output connected to a scan out. This selector, based on a test mode signal, selects either all scan paths or only the I/O scan path.

Σε ένα μεγάλης κλίμακας ολοκληρωμένο κύκλωμα, μια πορεία ανίχνευσης διαιρείται μεταξύ μιας I/O πορείας ανίχνευσης που διαμορφώνεται από μια σύνδεση σειράς μεταξύ μόνο flip-flops που είναι σε μια περιοχή κοντά σε μια I/O καρφίτσα και μια εσωτερική πορεία ανίχνευσης που διαμορφώνεται από μια σύνδεση σειράς μεταξύ άλλα flip-flops. Ένας επιλογέας έχει μιας από τις εισαγωγές του που συνδέονται με ένα άλλο τέλος της I/O πορείας ανίχνευσης και με ένα τέλος της εσωτερικής πορείας ανίχνευσης, άλλη των εισαγωγών του που συνδέονται με ένα άλλο τέλος της εσωτερικής πορείας ανίχνευσης, και την παραγωγή του που συνδέεται με μια ανίχνευση έξω. Αυτός ο επιλογέας, βασισμένος σε ένα σήμα τρόπου δοκιμής, επιλέγει είτε όλες τις πορείες ανίχνευσης είτε μόνο την I/O πορεία ανίχνευσης.