In an automatic chip test machine for testing electronic components, a novel quick disconnect articulated chuck for securing a chip nest, allowing rapid changes of the chuck and plunger head with minimum production downtime. The chuck is comprised of a chuck base and a quick disconnect assembly. The quick disconnect assembly includes a vacuum seal a retractable piston with vacuum cup attachment for securing a chip, a plunger head, alignment pins, and accessible disconnect screws. The base housing is mounted in a manner that permits articulation of the chuck to allow the chuck to align with the electrical test fixture; and a vacuum introduction port. A slide frame is supported on slide rails with a roller ball and detent mechanism to permit relatively low forces of the initial mating action between the chuck and the fixture to move the chuck into a position of better alignment, and therefore lower stress and wear.

In een automatische machine van de spaandertest om elektronische componenten te testen, nieuwe maakt snel gearticuleerde klem voor het beveiligen van een spaandernest los, toestaand snelle veranderingen van het klem en duikershoofd met minimumproductieonderbreking. De klem wordt samengesteld van een klembasis en snel maakt assemblage los. Snel maakt assemblage los omvat een vacuümverbinding een intrekbare zuiger met vacuümkopgehechtheid voor het beveiligen van een spaander, een duikershoofd, groeperingsspelden, en toegankelijk maak schroeven los. De basishuisvesting wordt opgezet op een manier die verbinding van de klem toelaat om de klem toe te staan om zich op de elektrotestinrichting te richten; en een vacuüminleidingshaven. Een diakader wordt gesteund op diasporen met een van de rolbal en klink mechanisme om vrij lage krachten van de aanvankelijke het koppelen actie tussen de klem en de inrichting toe te laten om de klem in een positie van betere groepering te bewegen, en daarom lagere spanning en slijtage.