A test socket for testing an optical IC device in a dead bug orientation includes a socket body with a device under test cavity (DUT cavity) for receiving an optical IC device under test (optical DUT) in a contact-up or dead bug orientation. The DUT cavity has a bottom wall with at least one aperture through which the photoactive side of the optical DUT held in the cavity can be illuminated. An outer array of axial contact elements arranged about the DUT cavity provides conductive paths through the socket body. The test socket further includes a plunger assembly insertable into the DUT cavity of the socket body having an inner array of axial contact elements which extend through the plunger assembly and which are configured to provide contact with the contacts on the contact side of the optical DUT. A transverse conductor bridge at the top of the plunger assembly provides a transverse electrical path connecting the inner array of axial contact elements of the plunger assembly and the outer array of axial contact elements of the socket body when the plunger assembly is inserted into the DUT cavity. An electrical path is thereby provided between the contacts of the contact optical DUT and the bottom of the socket body mounted to the DUT board through the plunger assembly and socket body.

Een testcontactdoos voor het testen van een optisch IC apparaat in een dode insectenrichtlijn omvat een contactdooslichaam met een apparaat onder testholte (holte DUT) voor het ontvangen van een optisch IC apparaat in onderzoek (optische DUT) in een contact-omhooggaande of dode insectenrichtlijn. De holte DUT heeft een onderste muur met minstens één opening waardoor de photoactive kant van optische DUT die in de holte wordt gehouden kan worden verlicht. Een buitenserie van ascontactelementen die over de holte DUT worden geschikt verstrekt geleidende wegen door het contactdooslichaam. De testcontactdoos omvat verder een duikersassemblage inlasbaar in de holte DUT van het contactdooslichaam dat een binnenserie van ascontactelementen heeft die zich door de duikersassemblage uitbreiden en die worden gevormd om contact met de contacten aan de contactkant van optische DUT te verstrekken. Een transversale leiderbrug bij de bovenkant van de duikersassemblage verstrekt een transversale elektroweg die de binnenserie van ascontactelementen van de duikersassemblage en de buitenserie van ascontactelementen verbindt van het contactdooslichaam wanneer de duikersassemblage in de holte DUT wordt opgenomen. Een elektroweg wordt daardoor verstrekt tussen de contacten van het contact optische DUT en de bodem van het contactdooslichaam opgezet aan de raad DUT door de duikersassemblage en het contactdooslichaam.

 
Web www.patentalert.com

< (none)

< Solar radiation sensor

> Oscillating cavity paint meter

> (none)

~ 00017