An IC socket for testing a grid array package, is configured to be fitted with an adapter socket mounted on a test board. The IC socket includes an IC socket body having a bottom plate formed with a number of contact holding holes penetrating through the bottom plate and arranged in the form of a matrix, and a number of contacts each having a contacting end, a spring portion, a fixing base portion and a contacting pin which are arranged in the named order, the fixing base portion of each of the contacts being inserted into a corresponding contact holding hole of the IC socket body from the upperside of the bottom plate. The IC socket also includes a fixing plate having a corresponding number of fixing apertures and fixed on an upper surface of the bottom plate of the IC socket body by passing the contacts through the fixing apertures, respectively, so that the fixing base portion of the contact is fixed between the bottom plate of the IC socket body and an edge portion of the fixing aperture of the fixing plate.

Гнездо IC для испытывать пакет блока решетки, установлено быть приспособленным при гнездо переходники установленное на доске испытания. Гнездо IC вклюает тело гнезда IC имея нижнюю плиту сформированную при нескольк контакт держа отверстия прорезывая через нижнюю плиту и аранжированную in the form of матрица, и несколько контакты каждое имея контактируя конец, часть весны, часть основания отладки и контактируя штырь которые аранжированы в названном заказе, часть основания отладки каждого из контактов будучи введенными в соответствуя контакт держа отверстие тела гнезда IC от upperside нижней плиты. Гнездо IC также вклюает плиту отладки имея соответствуя номер апертур отладки и зафиксированный на верхней поверхности нижней плиты тела гнезда IC путем проходить контакты через апертуры отладки, соответственно, так, что часть основания отладки контакта будет фикчирована между нижней плитой тела гнезда IC и частью края апертуры отладки плиты отладки.