An apparatus and method for high throughput surface plasmon resonance (SPR) sensor subarray comprising two or more SPR sensor subarrays (10) having a target layer on an SPR layer (22), wherein the SPR sensor subarrays (10) are exposed to a solution until a baseline measurement is attained, is disclosed. Once the SPR sensor subarrays (10) have attained baseline, the SPR sensor subarrays (10) are used to determine the interaction properties between said SPR sensor subarray and a test entity.

Un materiale e un metodo per l'alto sensore due contenenti subarray di risonanza del plasmon della superficie di rendimento (SPR) o più subarrays del sensore di SPR (10) che hanno uno strato dell'obiettivo su uno strato di SPR (22), in cui i subarrays del sensore di SPR (10) sono esposti ad una soluzione fino a raggiungere una misura della linea di base, è rilevato. Una volta che i subarrays del sensore di SPR (10) hanno raggiunto la linea di base, i subarrays del sensore di SPR (10) sono usati per determinare le proprietà di interazione fra il sensore detto di SPR subarray e un'entità della prova.

 
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