The input and output buffers and related peripheral circuits, such as holding circuits and ESD circuits, of an integrated circuit are tested using the boundary scan paths and three additional test bond pads. This structure provides for testing these circuits without the need physically to contact the functional bond pads. For an output buffer, one switch opens the connection between the output of the functional circuits and the input of the output buffer. A second switch connects the first test bond pad to the input of the output buffer. A third switch connects the second test bond pad to the output of the output buffer. A fourth switch connects the third test bond pad to the output of the output buffer. For an input buffer, separate first and second switches respectively connect the second and third test bond pads to the input of the input buffer. A third switch connects the first test bond pad to the output of the input buffer.

Die Eingang und Ausgang Puffer und die bezogenen Zusatzstromkreise, wie Halten der Stromkreise und DER ESD Stromkreise, einer integrierten Schaltung werden mit den Grenzscan-Wegen und drei Bondauflagen des zusätzlichen Tests geprüft. Diese Struktur stellt für die Prüfung dieser Stromkreise ohne die Notwendigkeit, mit den Funktionsbondauflagen physikalisch in Verbindung zu treten zur Verfügung. Für einen Ausgang Puffer öffnet ein Schalter den Anschluß zwischen dem Ausgang der Funktionsstromkreise und dem Eingang des Ausgang Puffers. Ein zweiter Schalter schließt die Bondauflage des ersten Tests an den Eingang des Ausgang Puffers an. Ein dritter Schalter schließt die Bondauflage des zweiten Tests an den Ausgang des Ausgang Puffers an. Ein vierter Schalter schließt die Bondauflage des dritten Tests an den Ausgang des Ausgang Puffers an. Für einen Eingang Puffer trennen Sie sich zuerst und zweite Schalter schließen beziehungsweise die Bondauflagen des zweiten und dritten Tests an den Eingang des Eingang Puffers an. Ein dritter Schalter schließt die Bondauflage des ersten Tests an den Ausgang des Eingang Puffers an.

 
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