A system for detecting open circuits is presented. The system comprises first and second digital-to-analog converters (DACs). The DACs, in combination with a microprocessor, generate a tri-state voltage which is fed through the system. This tri-state voltage is then attenuated via an amplifier. A probe carries an external attenuation signal via a measurement line through the system to be summed with the attenuated tri-state voltage to create V.sub.wts. An analog-to-digital converter then compares V.sub.wts with a known signal to determine whether the circuit under test is open.

Un système pour détecter les circuits ouverts est présenté. Le système comporte les convertisseurs d'abord et en second lieu numériques-analogique (DACs). Le DACs, en combination avec un microprocesseur, produisent d'une tension de trois états qui est alimentée par le système. Cette tension de trois états est alors atténuée par l'intermédiaire d'un amplificateur. Une sonde porte un signal externe d'atténuation par l'intermédiaire d'une ligne de mesure par le système pour être additionné avec la tension de trois états atténuée pour créer V.sub.wts. Un convertisseur analogique-numérique compare alors V.sub.wts à un signal connu pour déterminer si le circuit à l'essai est ouvert.